■装置概要 RoHS、ELVをはじめとする環境規制で使用制限されている物質の含有量を非破壊で分析することが可能です。 測定物質にX線照射により発生する原子特有の波長(エネルギー)を解析し定性・定量分析することができます。 ■仕様検出器:Si半導体検出器定性分析:スペクトル測定、自動同定定量分析:バルクFP法、検量線法検出可能元素:Al〜U ■適用例RoHS分析(非破壊)定性分析(非破壊)
測定物質にX線照射により発生する原子特有の波長(エネルギー)を解析し定性・定量分析することができます。
■仕様検出器:Si半導体検出器定性分析:スペクトル測定、自動同定定量分析:バルクFP法、検量線法検出可能元素:Al〜U
■適用例RoHS分析(非破壊)定性分析(非破壊)