分析技術・・・蛍光X線分析装置(XRF)

■装置概要
RoHS、ELVをはじめとする環境規制で使用制限されている物質の含有量を非破壊で分析することが可能です。

測定物質にX線照射により発生する原子特有の波長(エネルギー)を解析し定性・定量分析することができます。

■仕様
検出器:Si半導体検出器
定性分析:スペクトル測定、自動同定
定量分析:バルクFP法、検量線法
検出可能元素:Al〜U

■適用例
RoHS分析(非破壊)
定性分析(非破壊)

めっき(メッキ)加工/表面処理:株式会社ケディカ

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